[工程科技]相位噪声性能测试
本文档由 zhugehaotong 分享于2012-11-05 06:00
[工程科技]相位噪声性能测试lmk04000系列产品的相位噪声性能测试lmk04000系列产品的相位 噪声性能测试 1.0 前言编写本应用笔记的目的,是为了表现lmk04000系列精 密时钟去抖电路的时钟信号的相位噪声和抖动测量结果, 展示时钟信号输出端的相位噪声与vcxo相位噪声之间的关 系。由于采用了级联的双重pll架构,lmk04000系列提供 了出色的信号抖动清除功能。图1示出了一个双pll架构的框 图。该图还画出了一个时钟分配电路,该电..
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