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光无源器件,电子元器件产品的可靠性试验方法,商业标准及失效分析

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光无源器件,电子元器件产品的可靠性试验方法,商业标准及失效分析

韩梅梅创建于2012-05-24 最后编辑: 2012-06-01 15:14 4,875阅读 2人收藏
一些世界著名的商业标准,可用于电子院器件和光无源器件,并包括有关可靠性的资料,可以为高校学生和可靠性工程师学习使用。
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