基于ct技术的富士苹果内部品质无损检测研究

本文档由 一路风景 分享于2011-01-13 09:48

基于ct技术的富士苹果内部品质无损检测研究 ...
文档格式:
.pdf
文档大小:
2.84M
文档页数:
91
顶 /踩数:
0 0
收藏人数:
1
评论次数:
0
文档热度:
文档分类:
论文  —  毕业论文
添加到豆单
文档标签:
基于 ct 技术 富士 苹果 内部 品质 无损 检测 研究
系统标签:
苹果 富士 无损 品质 检测 糖分
下载文档
收藏
打印

扫扫二维码,随身浏览文档

手机或平板扫扫即可继续访问

推荐豆丁书房APP  

获取二维码

分享文档

将文档分享至:
分享完整地址
文档地址: 复制
粘贴到BBS或博客
flash地址: 复制

支持嵌入FLASH地址的网站使用

html代码: 复制

默认尺寸450px*300px480px*400px650px*490px

支持嵌入HTML代码的网站使用





82