高屏地區奈米核心設施建造
本文档由 yixiaoerguo111 分享于2010-08-21 17:57
可量测的薄膜材料: -semiconductor -dielectric -transparentconductors -photoresist(最厚可高到达120μm) -polymer -colorfilter -verythinmetalfilm(500A以下)五,放置...
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