LabVIEW於光电半导体材料研究技术之应用-萤光光谱(PL)
本文档由 专业娱乐文档 分享于2009-03-08 11:09
(deep energy level),只要其电子,电洞复合过程辐射出电磁波,即可被侦测到¸ 由於半导体的自发性萤光强度通常都很弱,即使是直接能隙(direct band gap)的材 料,为了增强萤光强度,我们常需要在低温的环境中量测,并且提供样品一束高 功率¸¸¸
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