基于单片机的位移传感器性能自动测试系统硬件设计

随着微电子和微机械加工技术的发展，研制尺寸小、重量轻、功耗低、响应快且与IC集成的位移传感器成可能并受到重视。在国内，对半导体研究已经深入研究，在此类传感器的研究中，针对传感器的响应及各种性能指标的测试研究具有非常重要的意义。本系统利用计算机自动控制技术，将检测过程完全自动化，实现对位移传感器的自动测试。在认真研究位移传感器工作原理的基础上，本课题是基于单片机对位移传感器的自动测试系统硬件设计。目..