基于单片机的位移传感器性能自动测试系统硬件设计
本文档由 同一个梦想 分享于2011-01-28 10:40
随着微电子和微机械加工技术的发展,研制尺寸小、重量轻、功耗低、响应快且与IC集成的位移传感器成可能并受到重视。在国内,对半导体研究已经深入研究,在此类传感器的研究中,针对传感器的响应及各种性能指标的测试研究具有非常重要的意义。本系统利用计算机自动控制技术,将检测过程完全自动化,实现对位移传感器的自动测试。在认真研究位移传感器工作原理的基础上,本课题是基于单片机对位移传感器的自动测试系统硬件设计。目..
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