电子元器件内引线键合失效模式及机理研究

本文档由 qqdf125 分享于2016-08-11 04:54

电子元器件内引线键合失效模式及机理研究,电子元器件失效分析,电子元器件的失效分析,失效机理,失效机理分析,网壳结构强震失效机理,esd失效机理,器件失效机理,什么是失效机理,电容低电压失效的机理
文档格式:
.pdf
文档大小:
1.82M
文档页数:
5
顶 /踩数:
0 0
收藏人数:
3
评论次数:
0
文档热度:
文档分类:
论文  —  毕业论文
添加到豆单
系统标签:
键合 引线 失效 电子元器件 机理研究 键台
下载文档
收藏
打印

扫扫二维码,随身浏览文档

手机或平板扫扫即可继续访问

推荐豆丁书房APP  

获取二维码

分享文档

将文档分享至:
分享完整地址
文档地址: 复制
粘贴到BBS或博客
flash地址: 复制

支持嵌入FLASH地址的网站使用

html代码: 复制

默认尺寸450px*300px480px*400px650px*490px

支持嵌入HTML代码的网站使用

分享到