耳机扩张寿命验机

头戴式耳机扩张寿命验机型号: HK-EJ-KZ4一、设备用途：本试验机主要适用于头戴式耳机的头戴结构经过N次扩张测试后，检测头带是否损坏。专业大器的外观设计,高质感表面处理,结合现代化的触摸屏及PLC控制系统，可精准的对头戴式耳机扩张结构进行寿命试验.二、设备特点：1、采用液晶触摸控制屏+三菱 PLC 做动作控制，可设定扩张行程、扩张速度、测试次数,；2、采用日本步进马达驱动；3、采用进口滚珠丝杆,定位精..