便携式能量色散X射线荧光仪测定矿渣中铟

采用电致冷Ｓｉ － ＰＩＮ 型半导体探测器和２４１Ａｍ 源作为激发源 以便携式能量色散Ｘ射线荧光快速分析仪为手段进行矿渣样品中铟的测定 讨论了样品中主要基体元素 ＦｅＣｕＰｂＺｎ等的影响 建立特散比法和一元回归相结合的数学模型对基体效应进行校正 仪器对自制样品重复测量２０次 从测量结果分析来看 标准偏差为２４．５ ｇｇ 相对标准偏差为６．４％ 仪器处于正常工作状态 通过部分自制样品的测量结果与化学分析的结果对比分析相对误差的最小值为０．３５％ 仪器测量结果为０．１５８％ 相对误差最大值为２６．０６％ 仪器测量结果为０．０２３％