TS-960e 系列
本文档由 虹科数据记录仪 分享于2018-12-10 14:25
TS-960e PXI半导体测试系统是一个集成的测试平台,提供与专有ATE(Automatic Test Equipment)的系统类似的系统特性和功能。TS-960e可作为工作台,集成推车或集成操纵器使用,充分利用PXI架构,为器件,SoC和SiP测试应用实现经济高效的全功能测试解决方案。测试系统包括高功率(每插槽60瓦),21槽,PXIe机箱和定制设计的性能测试接口,支持使用PCB DUT(被测设备)板—经过验证的高性能方法与设备接口测..
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