电子元件温度循环加速试验与分析

本文档由 纠结的西西弗斯 分享于2019-06-26 15:16

论文在这一方面的探索和分析中有这几点:一、对一些设备在温度不断增加的情况下得出结论的解析情况,和在竞争无效去又分别独立的的情况下环境的温度在不断的增加研究中有很大的相同解析方法。二、对这种研究的的情况给出一些更好的解决的方法,有这两种,一种是探析研究计划的方案主要就是给研究这反面提供出更好的方法,还有一种是模拟温度循环加速的研究中的优化。三、就是创造出在一定的多失效的模式中有一定的可用性的模型。..
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通信/电子  —  电子电气自动化
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电子元件 温度循环 加速试验
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温度 循环 电子元件 加速 failure acceleration
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