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應用高解析度線掃描CCD於ITO導電玻璃表面瑕疵檢測之研究

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本文档由 可風 分享于2011-11-08 21:05

有鑑於現今LCD 面板產業的快速發展及其在大量生產製造中對於面板製程高精密零組件的檢測需求，本研究自行建構一套以線掃描CCD 視覺系統為基礎的小型自動化光學檢測(AOI)平台。
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论文  —  毕业论文
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文档标签：
ito 瑕疵 ccd LCD AOI Linear CCD ITO Defective inspection
系统标签：
ito 瑕疵 ccd 玻璃表面 高解析度 化光
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