电子元器件失效分析技术经典案例

本文档由 hywh86 分享于2010-04-02 19:57

电子元器件失效分析,本文分析了许多关于失效的经典案便,包括:失效分析全过程案例、静电与闩锁失效分析案例、电浪涌失效分析案便等等。
文档格式:
.pdf
文档大小:
8.87M
文档页数:
352
顶 /踩数:
5 0
收藏人数:
67
评论次数:
0
文档热度:
文档分类:
高等教育  —  大学课件
添加到豆单
文档标签:
失效分析 技术
系统标签:
失效 电子元器件 esd 案例 分析技术 经典
下载文档
收藏
打印

扫扫二维码,随身浏览文档

手机或平板扫扫即可继续访问

推荐豆丁书房APP  

获取二维码

分享文档

将文档分享至:
分享完整地址
文档地址: 复制
粘贴到BBS或博客
flash地址: 复制

支持嵌入FLASH地址的网站使用

html代码: 复制

默认尺寸450px*300px480px*400px650px*490px

支持嵌入HTML代码的网站使用

分享到