集成电路芯片测试仪

本文档由 xuezhongwangyue 分享于2010-05-08 20:48

集成电路芯片测试仪,主要用于测试74系列芯片,系统交互性好,运行可靠,设计报告完整,并有完整的设计代码,测试仪为基于51单片机实现。
文档格式:
.doc
文档大小:
3.18M
文档页数:
54
顶 /踩数:
29 0
收藏人数:
31
评论次数:
0
文档热度:
文档分类:
待分类
添加到豆单
文档标签:
集成芯片 测试仪 报告 代码 51 74芯片 电路 设计 bit temp
系统标签:
测试仪 芯片 集成电路芯片 sbit 逻辑芯片 单片机
下载文档
收藏
打印

扫扫二维码,随身浏览文档

手机或平板扫扫即可继续访问

推荐豆丁书房APP  

获取二维码

分享文档

将文档分享至:
分享完整地址
文档地址: 复制
粘贴到BBS或博客
flash地址: 复制

支持嵌入FLASH地址的网站使用

html代码: 复制

默认尺寸450px*300px480px*400px650px*490px

支持嵌入HTML代码的网站使用





82