工艺对磁控溅射ZAO薄膜光电特性的影响

本文档由 ifbi0glrmwqd1289ed21pa_maj.. 分享于2009-02-11 15:39

在玻璃衬底上用直流磁控溅射的方法镀制ZAO透明导电膜,研究了温度、氧压比、溅射气压、溅射速率等工艺条件对ZAO膜电阻率和可见光透过率等光电特性的影响。实验结果表明,当温度470 ℃、氧氩比0¸5 / 40、溅射气压0¸5 Pa和镀膜速率3¸6 nm/min左右时,可获得薄膜电阻率7¸2×10–4 Ω•cm、可见光透过率85 %以上的最佳光电特性参数。
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行业资料  —  轻工业/手工业
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ZAO 溅射 电阻率 磁控 薄膜 温度 导电性 Sputtering 原子 基片
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zao 薄膜 光电特性 磁控溅射 电阻率 溅射
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