-
67
-
计算机知识w-集思-OA解决方案0422162637第一期.pdf
- 计算机知识w-集思-OA解决方案0422162637第一期计算机知识w-集思-OA解决方案0422162637第一期计算机知识w-集思-OA解决方案0422162637第一期
-
-
2
-
W-2200 双路SMD温度测试系统.pdf
- •基于软件的自动化石英晶体温度测试系统
•最多可堆叠2个托盘
•贴片尺寸可定制
•盘式托盘平台可以很容易地集成到专用机中,用于自动加载/卸载SMD设备
•测量超过75种不同的测试
•参数和曲线拟合特性检查容易界定QC界限
•不同频率的晶体可以在单温运行中进行测试。
•所有数据发布在微软access数据库,可以导出到微软Excel自定义数据分析
•使用水晶报表生成打印输出
•双商会配置可用
-
-
1
-
W-901A W-2200 盘式卸料机.pdf
- •在两个翻转托盘和W-2200 SMD 水晶光盘之间传输零件
•可以配置为仅卸载,仅装载或卸载并加载W-2200 SMD水晶光盘
•简单的翻转托盘将SMD零件进出缝焊机托盘
•使用W-2200中的USB光盘文件将故障分为4个箱子中的1个
-
-
5
-
HIGH EFFICIENCY 2200 W DC-DC POWER SUPPLY:高效率的DC-DC电源2200 W.pdf
- HIGH EFFICIENCY 2200 W DC-DC POWER SUPPLY:高效率的DC-DC电源2200 W电源,dc,DC,high,DCDC,power,High,dcdc,高效率,Power
-
-
1
-
W-901A-02 W-2200 SMD晶体温度盘式卸料器.pdf
- •从进纸碗将W-2200贴片晶圆装入零件
•将零件从W-2200 SMD晶圆卸载到托盘
•可以配置为仅卸载,仅装载或卸载并加载W-2200 SMD水晶光盘
•可选零件方向
•可选进料碗
•使用W-2200的USB光盘文件,可以将故障分类为4个箱子中的1个
-
-
2
-
W-2200 单圈测试温度测试系统.pdf
- •基于软件的自动化石英晶体温度测试系统
•测量超过75种不同的测试
•参数和曲线拟合特性检查容易界定QC界限
•不同频率的晶体可以在单温运行中进行测试
•所有数据都在微软Access数据库中发布
•可以将数据导出到微软Excel中进行自定义数据分析
•打印输出中使用水晶报表生成
•晶体零件号可以用来设置完整的测量参数,控制范围,温度测试点,和数据打印输出
-
-
2
-
Orr Elementary School 2200 Minnesota A ve SE , W ashing ton, DC 20020.pdf
- Orr Elementary School 2200 Minnesota A ve SE , W ashing ton, DC 20020
-
-
2
-
W-2200 低频 音叉.pdf
- •用于低频晶体的自动化、基于软件的石英晶体温度测试系统
•最多可堆叠2个托盘
•用于低频晶体的自动化、基于软件的石英晶体温度测试系统
•最多可堆叠2个托盘
•参数和曲线拟合特性检查容易界定QC界限
•不同频率的晶体可以在单温运行中进行测试
•所有数据都在微软Access数据库中发布
•可以将数据导出到微软Excel中进行自定义数据分析
•使用水晶报表生成打印输出
•双商会配置可用
-
-
1
-
W-2200 高速TCXO检测.pdf
- •5倍的速度比以前的系统TCXO扰动试验
•4盘托盘系统每运行多达640个晶体
•例如吞吐量:
*- 40° C to +80° C
*每个晶体上的289个测量
*总测试时间只有7小时
-
-
2
-
W-2200 台式.pdf
- •自动化,基于软件的石英双晶温度测试系统
•测量超过75种不同的测试
•两个晶体容量
•参数和曲线拟合特性检查容易界定QC界限
•精密晶体温度扰动分析
•示例摄动试验:
•- 40° C to +105° C
•超过1000个温度点
•SMD晶体的总测试时间为45分钟
•拥有两个SMD器件的测试夹具:
•2x2.5mm, 2.5x3mm, 3.2x5mm
•3.5x6mm, 5x7mm
•HC-49U, HC-49SMD, HC-49SMD-LP
•定制
•所有数据发布在微软access数据库
•可以将数据导出到微软Excel中进行自定义数据分析
•打印输出中使用水晶报表生成
-
向豆丁求助:有没有W-2200?