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基于PSD测距的智能光电导盲器设计.txt
- 基于PSD测距的智能光电导盲器设计
基于PSD测距的智能光电导盲器设计 ［科研探索与知识创新］
王朗宁 约3277字
摘要：设计了一种基于PSD原理距离探测的通道导盲器。介绍了PSD测距原理，构造了一个二维的探测告警系统，利用STC89C51RC单片机循环采样控制...
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实验二 光电导衰退测量少数载流子的寿命.doc
- 实验二 光电导衰退测量少数载流子的寿命论文 总结 英语 资料 ppt 文档 免费阅读 免费分享，如需请下载！
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高频光电导衰减法少子寿命测试仪设计.pdf
- 随着微电子工业的发展,对于材料和器件的质量有了更高的要求,对少子寿命的测量也更加重视起来。少子寿命是半导体材料和器件的一个重要参数,对半导体器件的正向压降、开关速度以及发光二极管的发光效率都有影响。因此,准确地测得这个参数,对于半导体器件制造等行业具有重要意义。 少子寿命的测试方法有很多种,包括直流光电导衰减法、准稳态光电导衰减法、高频光电导衰减法和微波反射光电导衰减法等,文章通过对几种具有代表性的测量少子寿命的方法进行对比分析,最终认为高频光电导衰减法最适合实验室研究。其优点是对样品的几何尺寸要求不高,在测量时不必制作欧姆电极,可以非接触、无损的测量样品少子寿命,样品较少受到污染。 本文重点介绍了高频光电导衰减法少子寿命测试系统。测试系统包括模拟电路部分和单片机部分。模拟部分电路包括20MHz高频源发生电路,功率放大电路,检波电路。单片机选用PIC16F877单片机为核心,主要负责信号的采集,数据分析和数据输出。其中用到了MSSP模块的SPI工作模式和I2C工作模式,CCP模块的输入捕捉工作模式和脉宽调制输出工作模式等。系统软件设计以MPLAB IDE v8.10为开发平台,采用C语言进行了编程...
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毕业论文-光电导引自主式搬运机器人设计.doc
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光电导型太赫兹辐射源研究(可编辑).doc
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光电导法测量单晶硅的禁带宽度.pdf
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聚磷腈衍生物的制备及光电导性能的研究.pdf
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- 高频光电导衰减法测试Ge 单晶少数载流子寿命佟丽英, 李亚帅(中国电子科技集团公司第四十六研究所, 天津 300220)摘要: 高频光电导衰减法是测量 Ge 单晶少数载流子寿命常用的方法, 高频脉冲信
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向豆丁求助：有没有光电导?
