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应变硅CMOS晶体管的原位掺杂硅锗与碳化硅源
漏极区
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应变硅CMOS晶体管的原位掺杂硅锗与碳化硅源漏极区应变硅CMOS晶体管的原位掺杂硅锗与碳化硅源漏极区应变硅CMOS晶体管的原位掺杂硅锗与碳化硅源漏极区
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利用锗预非晶处理来形成P-型轻度掺杂的
漏极区
的方法
.docx
利用锗预非晶处理来形成P-型轻度掺杂的漏极区的方法利用锗预非晶处理来形成P-型轻度掺杂的漏极区的方法利用锗预非晶处理来形成P-型轻度掺杂的漏极区的方法
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源极和
漏极区
的外延形成机制的非对称循环沉积和蚀刻工艺
.docx
源极和漏极区的外延形成机制的非对称循环沉积和蚀刻工艺源极和漏极区的外延形成机制的非对称循环沉积和蚀刻工艺源极和漏极区的外延形成机制的非对称循环沉积和蚀刻工艺
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施加浮动电压于源极或
漏极区
的操作存储器的装置与方法
.docx
施加浮动电压于源极或漏极区的操作存储器的装置与方法施加浮动电压于源极或漏极区的操作存储器的装置与方法施加浮动电压于源极或漏极区的操作存储器的装置与方法
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在垂直晶体管器件上形成底部与顶部源极/
漏极区
的方法
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在垂直晶体管器件上形成底部与顶部源极/漏极区的方法在垂直晶体管器件上形成底部与顶部源极/漏极区的方法在垂直晶体管器件上形成底部与顶部源极/漏极区的方法
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金氧半导体场效应电晶体及源/
漏极区
中降低损坏的方法
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金氧半导体场效应电晶体及源/漏极区中降低损坏的方法金氧半导体场效应电晶体及源/漏极区中降低损坏的方法金氧半导体场效应电晶体及源/漏极区中降低损坏的方法
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在小平面区下方具有向下的锥形区的晶体管的嵌入式源极或
漏极区
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在小平面区下方具有向下的锥形区的晶体管的嵌入式源极或漏极区在小平面区下方具有向下的锥形区的晶体管的嵌入式源极或漏极区在小平面区下方具有向下的锥形区的晶体管的嵌入式源极或漏极区
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在窄隔离有界的源极/
漏极区
上形成改善的EPI填充的方法及由此形成的结构
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在窄隔离有界的源极/漏极区上形成改善的EPI填充的方法及由此形成的结构在窄隔离有界的源极/漏极区上形成改善的EPI填充的方法及由此形成的结构在窄隔离有界的源极/漏极区上形成改善的EPI填充的方法及由此形成的结构
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组态及制造具有沿着源极/
漏极区
带的带有经裁制袋部的非对称场效应晶体管的半导体结构
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组态及制造具有沿着源极/漏极区带的带有经裁制袋部的非对称场效应晶体管的半导体结构组态及制造具有沿着源极/漏极区带的带有经裁制袋部的非对称场效应晶体管的半导体结构组态及制造具有沿着源极/漏极区带的带有经裁制袋部的非对称场效应晶体管的半导体结构
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