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电迁移及其测试技术在超深亚微米IC金属化工艺开发中的研究.pdf
复旦大学硕士学位论文电迁移及其测试技术在超深亚微米IC金属化工艺开发中的研究姓名:黄宁阳申请学位级别:硕士专业:电子与通信工程指导教师:郑国祥20061030目录摘要特征尺寸在0.18微米及以下制成称
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采用分离的、双面的金属化结构来促进采用堆叠裸片的半导体裸片("裸片")模块的集成电路(IC)封装以及相关的制造方法.pdf
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